如何提高角度測量精度，一直以來是二維測量儀器難以攻克的難關。現在市場上流行的二維測量儀器關于角度測量的方法基本有兩種，一種是切線法，一種是采點計算法。
切線法是指人工旋轉屏幕上或者鏡頭內刻線，分別對準工件兩條邊線，通過編碼器或者圓光柵計數來測量角度的方法。這種方法又分為兩種，投影切線法，如投影儀，工具顯微鏡等，和影像切線法，如影像儀，帶視頻功能的工具顯微鏡，依靠軟件自帶的米字線旋轉測量。
切線法操作方便簡單，但是測量精讀低，適合快速批量檢測，如果被測件角度精讀要求較高，另一種方法，采點計算法就比較適合。
所有的幾何元素都是有點組成的，包括基本元素直線，曲線和圓弧。二維平面角度由基本幾何元素兩條直線組成，直線由無數的點組成。所以角度測量準確與否，采點是最關鍵的。
角度測量技巧一：直線采集盡量長。
影像測量儀，由于屏幕顯示有限，加上放大倍率較大（一般在0.7檔～4.5檔 28X～180X)，屏幕顯示部分的工件尺寸實際只有幾毫米，很多測量人員在檢測的時候習慣只在屏幕顯示部分上采集點、線元素。如果采集的點有偏差，所采線段越短，那么所測得的角度值偏差就會越大，線段越長，測得角度值偏差就會越小。如圖1所示，理論角度為30度，采點偏差0.25mm,，我們可以清楚的看到線段長短對測量值的影響。
